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文献所属馆:
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分析晶体缺陷的电子显微术, (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著
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ISBN:
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价格:
0.46元
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语种:
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chi
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题名:
|
分析晶体缺陷的电子显微术
/
(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著
,
唐振川,王桂金译
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出版发行:
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出版地:
上海
出版社:
上海科学技术出版社
出版日期:
1979.11
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载体形态:
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111页
大32开
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中图分类:
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TN153
版次:
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主要著者:
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洛雷托
著
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主要著者:
|
斯莫尔曼
著
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次要著者:
|
唐振川
译
|
次要著者:
|
王桂金
译
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索书号
|
TN153/4
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标签:
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随书附盘:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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| |著□g唐振川,王桂金译□Afen xi jing ti qu-
| |e xian de dian zi xian wei shu
210| |□a上海□c上海科学技术出版社□d1979.11
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