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分析晶体缺陷的电子显微术, (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著

ISBN:
价格: 0.46元
语种:
chi
题名:
分析晶体缺陷的电子显微术 / (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 , 唐振川,王桂金译
出版发行:
出版地: 上海 出版社: 上海科学技术出版社 出版日期: 1979.11
载体形态:
111页 大32开
中图分类:
TN153 版次:
主要著者:
洛雷托
主要著者:
斯莫尔曼
次要著者:
唐振川
次要著者:
王桂金
索书号
TN153/4
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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   |  |著□g唐振川,王桂金译□Afen xi jing ti qu-
   |  |e xian de dian zi xian wei shu
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702| 0|□a唐振川□4译□Atang zhen chuan
702| 0|□a王桂金□4译□Awang gui jin
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