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		分析晶体缺陷的电子显微术, (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著
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					ISBN:
				 
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				价格:
0.46元
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					题名:
				 
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分析晶体缺陷的电子显微术
				
				
				
				/
				
(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著
				,
				
唐振川,王桂金译
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					出版发行:
				 
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				出版地:
				
上海
				出版社:
				
					
上海科学技术出版社
				
				出版日期:
				
1979.11
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					载体形态:
				 
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111页
					
					
大32开
					
				
				
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					中图分类:
				 
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TN153
				版次:
				
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					主要著者:
				 
			 | 
			
				
					
洛雷托
				
				
				
著
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			| 
				 
					主要著者:
				 
			 | 
			
				
					
斯莫尔曼
				
				
				
著
			 | 
		
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
	
		
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					次要著者:
				 
			 | 
			
				
					
唐振川
				
				
				
译
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			| 
				 
					次要著者:
				 
			 | 
			
				
					
王桂金
				
				
				
译
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						索书号
					 
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TN153/4
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			 标签: 
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			 随书附盘: 
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			 相关资源: 
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200|10|□a分析晶体缺陷的电子显微术□f(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼-
   |  |著□g唐振川,王桂金译□Afen xi jing ti qu-
   |  |e xian de dian zi xian wei shu
210|  |□a上海□c上海科学技术出版社□d1979.11
215|  |□a111页□d大32开
690|  |□aTN153
701| 1|□a洛雷托□e美□4著□Aluo lei tuo
701| 1|□a斯莫尔曼□e美□4著□Asi mo er man
702| 0|□a唐振川□4译□Atang zhen chuan
702| 0|□a王桂金□4译□Awang gui jin
905|  |□aST□fTN153/4□s2