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文献所属馆:
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半导体测试技术, 孙以材编著
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ISBN:
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价格:
4.85元
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语种:
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chi
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题名:
|
半导体测试技术
/
孙以材编著
,
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出版发行:
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出版地:
北京
出版社:
冶金工业出版社
出版日期:
1984.10
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载体形态:
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499页
26cm
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中图分类:
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TN302
版次:
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主要著者:
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孙以材
编著
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索书号
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TN302/1
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标签:
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随书附盘:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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