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半导体测量和仪器, (美)鲁尼安编著

ISBN:
价格: ¥1.15
语种:
chi
题名:
半导体测量和仪器 / (美)鲁尼安编著 ,
出版发行:
出版地: 上海 出版社: 上海科学出版社 出版日期: 1980.1
载体形态:
322页 19cm
中图分类:
TN304.07 版次:
主要著者:
鲁尼安 编著
索书号
TN304.07/1
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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