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| 描述: | |
| 公开/私有: | 公开 私有 |
标签:
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文献所属馆:
文献所属馆:
半导体器件的可靠性专集, 科技情报所重庆分所编 |
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ISBN:
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价格： 1.05元 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体器件的可靠性专集 / 科技情报所重庆分所编 , |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 科技文献重庆分社 出版日期： 1974.7 |
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载体形态:
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165页 26cm |
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中图分类:
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TN306 版次： |
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团体著者:
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科技情报所重庆分所 编 |
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索书号
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TN306/1 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
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限定馆藏状态:
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