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文献所属馆:
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半导体器件的可靠性.第三集, 科技情报所重庆分所编
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ISBN:
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价格:
1.15元
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语种:
|
chi
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题名:
|
半导体器件的可靠性
/
科技情报所重庆分所编
,
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出版发行:
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出版地:
出版社:
科技文献重庆分社
出版日期:
1977.8
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载体形态:
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173页
26cm
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中图分类:
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TN306
版次:
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团体著者:
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科技情报所重庆分所
编
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索书号
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TN306/2-3
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标签:
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随书附盘:
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相关主题:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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